SAK光譜共焦位移測量儀GP-40-D4彩色共焦位移傳感器是一種精度可達次微米量級的非接觸式位移量測系統，對於表面漫反射或鏡反之物體乃至透明材質皆可測量其位移或厚度，基於出光與回傳訊號路徑同軸之特性，彩色共焦位移傳感器亦適合於深孔/盲孔工件等量測應用
型號：GP-40-D4
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更新時間：2025-11-11
價格：
SAK光譜共焦位移測量儀GP-40-D4
1 穩定量測各類材質, 例如金屬／陶瓷／鏡面／玻璃等
2 適用於各種工件形貌（包含深孔／斜面／弧面）之特徵尺寸量測, 例如高度／段差／厚度／平面度／輪廓度等
3 高溫高壓等嚴苛操作條件下亦能適應正常使用
SAK光譜共焦位移測量儀GP-40-D4
目前可以提供的規格參數
傳感探頭
控制器
| 型號 | GP-20-D2 | GP-60-D6 | GP-40-D4 |
| 量程範圍 | 2 [mm] | 6 [mm] | 4 [mm] |
| 工作距離 | 18±1 [mm] | 55±3 [mm] | 33±2 [mm] |
| 分辨率 *1 | 0.05 [μm] | 0.1 [μm] | 0.2 [μm] |
| 線性度 *2 | ±0.25 [μm] | ±0.5 [μm] | ±2[μm] |
| 光點直徑 *3 | 25 [μm] | 45 [μm] | 40 [μm] |
| zui大傾角 *4 | ±22 [deg] | ±11 [deg] | ±7 [deg] |
| 測頭尺寸(φ xL) | φ 34*78.4 [mm] | φ 33*75 [mm] | φ 15*55 [mm] |
| 測頭重量 | 105 [g] | N/A [g] | N/A [g] |
| 防護等級 | IP40 | IP40 | IP40 |
| 控制器 | GP-CON | ||
| 光源 | LED | ||
| 控制器尺寸(LxH) | 96*136*136 [mm] | ||
| 控制器重量 | 1.65 [kg] | ||
| 額定電壓 | 24 [VDC] | ||
| 傳輸接口 | RS-232: 115,200bps | ||
| Ethernet: 100BASE-TX/10BASE-T | |||
| 防護等級 | IP20 | ||
| 測量週期 | 5 ~ 65 [ms] | ||
| 光纖延長線 | GP-F | ||
| 長度 | 2 / 5 / 10 [m] | ||
| 重量 | 23/ 40 / 69 [g] | ||
| zui小折彎半徑 *5 | 50 [mm] | ||
| 環境條件 | |||
| 操作溫度 | 5~40 [°C] | ||
| 環境溼度 | 35~80 [%] | ||
| 環境照度 | <10,000 [lx] | ||
| 其它 | |||
| 夾置具 | 可客製化 | ||
*1. 分辨率: 針對靜止工件於量程中心零點平均10次之雜訊大小程度. (開啟光強自動調節及10次平均功能)
*2. 線性度: 針對鏡面標準件於校準後進行滿量程量測時之zui大誤差值. (開啟光強自動調節及10次平均功能)
*3. 光點直徑: 量程中心之理論光斑直徑值.
*4. zui大傾角: 指鏡面全反射材質工件下之zui大可接收光訊號角度, 一般漫反射工件可達±80度.
*5. zui小折彎半徑: 光纖捲曲收納時可接受之zui小曲率半徑, 低於此值易於折斷毀損.
其他量程規格將陸續提供
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